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gaojing101 发表于 2017-9-6 14:40:52

金属探测仪排斥时间问题求助（提供报酬）

我司生产专业金属探测仪，用于检测食品在加工过程中是否混入金属异物。设备主要组成部分是检测头，输送带，和电机。如果无异物的合格品通过探测头时，机器不报警。如果混有异物的产品通过检测头时，检测头会触发报警，输送带停止，或者是加装剔除系统（选配），左右不合格品会自动被剔除系统剔除掉（选配）。


现在机器上的电路板设计是机器报警的话会产生一个高频信号，大金属块异物和小金属块异物的高频持续时间不一样，导致自动剔除系统的剔除持续时间不一样。以一台，电磁阀和气缸控制）机型为例，0.8mm直径的铁球（信号较小）测试块通过机器时，剔除动作在1秒内可以完成，而当2.0mm直径的铜球测试块（信号较大）通过机器时，剔除动作要6秒才能完成(可查看附件视频)。这样的话，导致的结果就是剔除持续时间太长，第一秒把混入异物的产品剔除后，剩下的5秒就会把合格的产品也剔除掉。


客户希望我们把机器改成不管多少大小的金属块通过式，剔除持续时间都能保持一致，一秒左右，确保不要浪费合格的物料。希望提供解决方案，是修改电路，还是通过增加PLC控制。如需要照片，视频和其他图纸等信息都可以提供。

http://dl.ntpcb.com/attachment/thumb/Mon_1709/32_81296_2c411a2fcca3371.jpg
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riverhill 发表于 2017-9-7 07:10:53

wjgmr 发表于 2017-9-7 07:37:03

必须要有原理图才能判断呀。

fengxz 发表于 2017-9-7 08:23:32

不懂学习下

jopey 发表于 2017-9-7 08:24:36

不懂

shenchengan 发表于 2017-9-7 08:44:49

期待高手解决！

linyuanfei 发表于 2017-9-7 08:47:45

这个需要高手指点了，只能帮顶

wloved 发表于 2017-9-7 08:49:25

原理图呢？为什么不单独使用一个处理器来完成剔除操作呢，金属探测信号转成开关信号，来供控制剔除操作的处理器判别动作呢

weijie0015 发表于 2017-9-7 08:53:21

wcjcn 发表于 2017-9-7 08:57:08

学习一下。。。。

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