DDR3时序问题
已有 325 次阅读2016-5-26 09:33
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所谓的影响性能是并不是指SDRAM 的带宽,频率与位宽固定后,带宽也就不可更改了。但这是理想的情况,在内存的工作周期内,不可能总处于数据传输的状态,因为要有命令、寻址等必要的过程。但这些操作占用的时间越短,内存工作的效率越高,性能也就越好。
非数据传输时间的主要组成部分就是各种延迟与潜伏期。通过上文的讲述,大家应该很明显看出有三个参数对内存的性能影响至关重要,它们是tRCD、CL 和tRP。每条正规的内存模组都会在标识上注明这三个参数值,可见它们对性能的敏感性。
以内存最主要的操作— — 读取为例。tRCD 决定了行寻址(有效)至列寻址(读/写命令)之间的间隔,CL 决定了列寻址到数据进行真正被读取所花费的时间,tRP 则决定了相同L-Bank中不同工作行转换的速度。现在可以想象一下读取时可能遇到的几种情况(分析写入操作时不用考虑CL 即可):
1、要寻址的行与L-Bank 是空闲的。也就是说该L-Bank 的所有行是关闭的,此时可直接发送行有效命令,数据读取前的总耗时为tRCD+CL,这种情况我们称之为页命中(PH,Page Hit)
2、要寻址的行正好是前一个操作的工作行,也就是说要寻址的行已经处于选通有效状态,此时可直接发送列寻址命令,数据读取前的总耗时仅为CL,这就是所谓的背靠背(Back to Back)寻址,我们称之为页快速命中(PFH,Page Fast Hit)或页直接命中(PDH,Page DirectHit)。
3、要寻址的行所在的L-Bank 中已经有一个行处于活动状态(未关闭),这种现象就被称作寻址冲突,此时就必须要进行预充电来关闭工作行,再对新行发送行有效命令。结果,总耗时就是tRP+tRCD+CL,这种情况我们称之为页错失(PM,Page Miss)。
显然,PFH 是最理想的寻址情况,PM 则是最糟糕的寻址情况。上述三种情况发生的机率各自简称为PHR— PH Rate、PFHR— PFH Rate、PMR— PM Rate。因此,系统设计人员(包括内存与北桥芯片)都尽量想提高PHR 与PFHR,同时减少PMR,以达到提高内存工作效率的目的。