MVG发布MiniLAB系统新功能为在LTE设备上测量RSE提供了全新方

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引领创新天线测试技术的系统生产厂商——法国Microwave Vision Group (以下简称MVG)近日宣布在其备受业界欢迎的MiniLAB系统中集成了RSE和无源天线测量功能。MiniLAB系统现不仅可以进行高准确度的OTA测试，还能提供无源测量，并为在LTE设备上测量RSE提供了一个全新方案。

在无源天线测量上，MiniLAB的电子扫描多探头阵列封装在高隔离暗室中，可加快测量速度，并为直径达30 cm *的被测设备绘制天线辐射图，使其成为优化各种设备天线性能的理想解决方案。

辐射杂散发射（RSE）是指被测设备（DUT）发出的所有非基本发射。高水平的辐射发射会对某些特定无线产品带来功能上的挑战，干扰其他无线设备或无线电系统，或者改变设备本身的运行效率。

出于这个原因，诸如国际电信联盟（ITU）、欧洲无线电和电信终端设备（R＆TTE）指令以及联邦通信委员会（FCC）的标准化机构对在无线设备上测量RSE进行了严格的测试要求规定。这些测试要求旨在消除被测设备附近有其他无线设备时的干扰风险。

过去一直以来都是使用垂直扫描机械运动来测量RSE，以便在方位角旋转时监控设备。但这与许多传统测试方法一样，在设计和生产过程中非常耗时，而对厂商来说上市时间又是至关重要的。

相比较，MiniLAB采用多探头技术，为在LTE和其他有源设备上测量提供了一个全新的RSE测试方案。在提供准确、稳定的数据同时，可以更快速、更详细、更经济地解决企业的RSE测试需求。

使用MiniLAB可以大幅缩短测量时间和提交精确测量数据，其集成的多探头阵列采用电子扫描来测量无线设备，使用户能够更轻松、更快速地在高达6 GHz的LTE频段测量RSE。测量完成后，20秒内即能获得RSE测量结果。

MiniLAB配备全电波暗室，屏蔽效能> 100 dB，并提供高动态范围，可测量传输无线信号和周围发射的峰值电平而不会造成任何失真。
转自：ECCN网http://news.eccn.com/news_2019090210285285.htm