[零组件/半导体] 射频紧急调试........

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第一个问题是,在RX状态下的杂散超标,我自己测试一看,原来是本振信号,这种信号来自芯片(芯片应该抑制住),距离工作频率还有一定距离,一般使用陷波器可以抑制。原理很简单,但调试起来没那么容易。要不断去尝试不同的元器件组合值,不但要看杂散是否压下去,还要看TX和RX指标是否受到影响。其实这种调试,最好用ADS先仿真一下,大概有个方向,调试起来会容易些。但我没装仿真软件,只能盲调。好在很快就找到了合适的值,把杂散压下去15dB。但是匹配有点变化,不过调试了一个电容的位置,也立马就调好了。第二个问题是低温条件下,PSD超标。低温时,发射功率一般都会提高,这种应该要使用温度补偿功能,保证低温、常温和高温,功率都不能有明显变化,但是这个芯片方案,是第一次用,临时调温度补偿,风险未知,并且我简单试了一下,温补机制确实有问题,所以使用另外一种方法。这种方法是纯硬件方法,确定性比较高,花点时间,很快也就调好。两个问题调试好之后,又带到第三方验证之后,才给客户测试。很快客户反馈结果,测试Pass,终于松了一口气,射频紧急调试告一段落。这2个问题,都是传导可以测的,自己测和实验室测,结果不会有明显差异。之所以之前没发现,原因在于对这个国家的认证法规不熟悉,自测的时候就没测对,也识别不到未测项目的风险。经过这次认证整改,对该国家的认证已经比较了解,知道测什么,知道怎么测,知道哪些容易fail,以后就好办多了。再说说射频调试,现在遇到的大部分问题,都可以调好,看着元器件的组合挺多,但实际能用的选择是有限的,枚举几次,就能找到一个次优解。但是也有个别问题,调不好。这几天还遇到一个问题,在FEM输出加上滤波器,指标就会明显恶化,调试多次都没调好,感觉需要用仪器测试看看才行。

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