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反馈回来控制晶体管打开的角度。
芯片内核温度不要超过:125℃(工业级),θja=60℃/W,功率每上升1W,不加散热片的情况下,芯片内核到空气的总的热阻是60.θjc是内核到芯片内核的热阻。
芯片静态工作功率很低可以忽略不计。
输出电容:并联0.1uf陶瓷电容,1uf或者4.7uf的陶瓷电容,22uf的钽电容;
开关电源的纹波一般好的20mV,或者有50mV,80mV;
LDO的纹波达到uV级别;ADI最低的纹波为0.8uV,比干电池的纹波还小。
新版本的LDO并联更好,采用共同的采样电阻,使得输出的电压几乎一样大;
虽然基准一样了,但是芯片里面的比较器和晶体管很难做到100%一致,所以需要在输出端加入10mΩ的PCB线路来吸收那一点点误差。
1.3.3V输出,0.3A电流,4V的压差,产生1.2W的功率,输入7.3V
DD-PARK的温度:工作30秒左右后,50摄氏度左右。加个USB的微风的风扇,温度回落到43℃
SOT-223的温度:92℃,加风扇后后,温度回落到;
对比,符合热阻参数的值;
2.散热片对散热的帮助TO-220,1.2W
未加散热片时:30秒后,61℃;
未加导热硅胶的加散热片时:40秒后,43℃,风扇加微风后38℃;
加更大的散热片:40秒后,32℃;
小散热片40秒后,温度为43℃,同时加硅胶垫片时(减小两个金属中间接触的缝隙也就是为了减小热阻):40秒后,41℃,加风扇后35.5摄氏度;(有风时加硅胶效果会好一点);
密闭腔体散热器的帮助,将电流调大到0.8A,3.2W,这样温度上升会快一点。
以上是小散热片,模拟密闭空腔,3.2W,60秒后,把罩子拿开,测温80℃;
换一个大的散热片,密闭空腔,没有空气对流,3.2W,60秒后,测温63.5℃;烫手;
由于测试环境条件不足,试验失败,哈哈哈;
但是结论是:在一个密闭的腔体里,没有空气对流,散热器的大小对散热的本质作用是有限的;
3.两类LDO并联:LT3080和AMS1117-3.3;500mA负载,5V的压差;输入8.3V,输出3.25V(由于线损的原因);
两个LT3080:两边的温度比较均衡,81.2和81.5℃,基本是同步的,两个温度同步;
两个AMS1117:为了安全防止烧毁,将电流改小为0.2mA,温度一个是66度,另一个30度,不平衡;将电流往上加1A,将压差调低,输入电压为5.3V,此时,一个稳定80度,另一个50度;1.4A时,一边92度,另一边72度。加到输入电压6.3V,7.3V,8.3V,芯片烧坏,输出不是3.3V了,5V的压差,电流未能达到2A;温度130度,125度,烧;
图文并茂
1.4 线性稳压器LDO选择与使用技巧.pdf
(15.49 MB, 下载次数: 11)
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