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负性光敏PI-7000系列
- PI-7000系列,负性
- 推荐i-,g-line
- 可旋涂于硅,玻璃,氧化铝陶瓷,砷化镓衬底
- 不适用于金属铜衬底
- 耐击穿性能好,作为钝化层
- 封装过程中RDL
PI胶的物理性能我们需要格外关注
下表给出了Fujifilm PI7000系列物理参数,为什么我们会关注这些参数呢?以PI胶为主?其实这跟设计以及光刻胶的应用场景有关系,比如说我们如果以PI作为器件的制程结构,那么我们就需要考虑到他的力学性能,他的屈服强度怎么样?他的弹性刚度怎么样?以及他们的电学性能,比如在射频器件中以PI充当介质的时候,在传输过程中我们会考虑到介电损耗,那么我们需要关注它的介电常数?当我们以PI作为钝化层,保护层的时候,我们经常会考虑到该材料的热力学性能,比如说当我们去做钝化层的时候,我们会考虑CTE匹配的问题,以及该种材料Tg,比较明显的问题就是很多时候我们会看到一些由于衬底与Film材料CTE不匹配的问题导致的应力问题,轻则造成film结构脱落,重则造成碎片。
负性光敏PI-9000系列- PI-9000系列,负性
- 推荐i-,g-line
- 可旋涂于硅,玻璃,氧化铝陶瓷,砷化镓衬底
- 与金属铜衬底粘附性好
- 耐击穿性能好,作为钝化层
- 封装过程中RDL
- 低温的固化,可以提高其分辨率
紫外光刻胶材料紫外光刻胶 | 紫外正胶 | AR-P 3110,3120,3170 | 薄胶(< lum),精细结构加工,掩膜板制作 | AR-P 3210,3220,3250 | 厚胶(5~100um),电镀、LIGA工艺、MEMS工艺 | AR-P 3510(T),3540(T) | 工艺宽容度大,高分辨率 | AR-P 3740,3840 | 高分辨率,高对比度,亚微米结构加工 | lift-off工艺光刻胶 | AR-P 5350 | 单层 lift-off 正胶 | AR-BR 5460,5480 | 双层 lift-off 底层胶 | 紫外负胶 | AR-N 4340 | i-line, g-line 紫外负胶,高灵敏度 | AR-N 4600 | 厚胶i-line,broadband UV,紫外负胶,高灵敏度 | AR-N 4400-05,-10,-25,-50 | 厚胶(5/10/25/50um),对紫外、电子束、X 射线等多种 | AR-N 4450-10 | 光源敏感,可用于LIGA、MEMS、lift-off 等多种工艺 | 电子束光刻胶电子束光刻胶 | 电子束正胶 | AR-P 631~679 | PMMA(50K,200K,600K,950K),高分辨率( 苯甲醚 A,乳酸乙脂 E, 氯苯 C) | AR-P 617 | PMMA/MA 共聚物,高灵敏度,高分辨率 | AR-P 6500 | PMMA 厚胶(10 ~ 250um) | AR-P 6200 | 超高分辨率,超高对比度,高灵敏度,耐干法刻蚀 | 电子束负胶 | AR-N 7520 | 高分辨率,高对比度,耐干法刻蚀,混合曝光 | AR-N 7500 | 高分辨率,耐干法刻蚀,混合曝光 | AR-N 7700 | 高灵敏度,耐干法刻蚀,混合曝光 | AR-N 7720 | 低对比度,三维电子束曝光 | SX AR-N 8200 | 高分辨率、耐干法刻蚀 | 导电胶 | AR-PC 5090.02 | 消除荷电效应、水溶性、适于 PMMA、HSQ等 | AR-PC 5091.02 | 消除荷电效应、水溶性、适于 AR-N 7520 等 | 特殊功能光刻胶特殊功能光刻胶 | AR-P 1200/AR-N 2200 | 喷涂紫外正 /负胶 | AR-U 4030,4040,4060 | 图形反转胶 | SXAR-P 5000/82.7 | 聚酰亚胺紫外正胶 | SX AR-PC 5000/80.2 | 聚酰亚胺保护胶 | SX AR-P 3500/8 | 耐高温正胶 | SX AR-N 4340/7 | 耐高温负胶 | SXAR-P5900/4 | 耐碱刻蚀紫外正胶 | AR-P 5910 | 耐 HF 酸(< 5%) 紫外正胶 | AR-PC 503,504 | 耐酸碱保护胶 | SX AR-PC 5000/41 | 耐酸碱保护胶(HF) | SX AR-P 3500/6 | 全息曝光紫外正胶 | XAR-P 5800/7 | 深紫外正胶 | SX AR-N 4810/1 | 无水工艺紫外负胶 | SX AR-PC 5000/22.2 | 表面平坦化保护胶 | XAR-N 7700/30 | 高灵敏度电子束负胶 | AR 300-80 new | 增附剂 |
后 记
前两天有朋友后台问了一些问题,诸如lift off该采取什么工艺呀?为什么我调的光刻胶垂直度不够,膜厚均匀性不好?为什么我的光刻胶衬底黏总发生Peeling?小编时间比较紧张,最近,细节问题太多无法一一回复,但这些问题存在共性。(一)弄清楚应用情景,选择适合的光刻胶跟光刻工艺,不是所有的光刻胶能够更好地用来抵挡刻蚀,不是所有的光刻胶可以用来电镀。尽量选择适合的光刻胶,以便增加工艺窗口。
(二)基本的工艺要搞清楚,不要混淆概念。比如说lift-off工艺,首先要分清楚工艺的类型,要做单层film还是多层film,这两种工艺很多细节不一样。比如说,单层工艺简单些,光刻工艺做完后,沉积金属film,然后再通过NMP等将光刻胶lift off掉,但有细节!第一,光刻胶跟金属膜厚是否需要注意?,第二光刻后的undercut角度怎么样?这些问题是工艺的核心问题,值得去推敲思考双层工艺比较复杂一些,诸如细节性的问题,光敏胶跟底层胶厚度如何设置?金属膜厚跟两层光刻胶的关系?两层光刻胶工艺交叉问题,如何避免由于工艺问题导致的lift off 残留光刻胶等?!(三)光刻胶发生peeling造成的原因很多,归结到底属于黏附问题
- 衬底黏附性问题,不是所有的黏附问题都可以通过HMDS解决,有时候适得其反!
- 工艺问题,主要考虑烘烤,以及HMDS工艺是否合适。
- 前层衬底材料的特殊性,不同制程dep的 film亲水性问题,比如前层衬底DEP金属film,倘若一些易氧化的film,那么表面会吸附氧气,氧原子的悬挂键,会吸附羟基(我从本质上觉得这个问题应该是电偶极性的问题)从而导致吸水问题,那么疏水的材料就导致黏附性差,但倘若DEP的材料本身就是疏水性,HMDS的作用可能适得其反。
- 粘合剂选择问题。并不是所有的粘合剂只有HMDS,比如说还有SURPASS,Omincoat等。
- 光刻胶应力与衬底热匹配问题(主要参考PI)
- Design问题,类似深宽比问题,Trench深度与线宽的比值很大。
(四)陡直度问题
光刻胶的陡直度问题,第一,从光刻胶的厚度角度,此厚度是否合适,该光刻胶能否在此厚度下应用?第二,从光刻工艺softbake入手,光刻胶软!第三,曝光 DOF是否选择,选择合适Focus参数,当然对于其他的光刻机,要考虑曝光间距是否合适,是否由于曝光时间或者曝光量导致的一些光学衍射的影响。第四,对化学放大胶而言,PEB是否合适?第五,hardbake工艺是否合适?总之,说了一遍跟没说一样,这是个工艺体系。但工艺就是这样,任何一个工艺问题都是一个复杂的多维度问题,只见树木,不见森林,盲人摸象是不正确的,我们既要掌握全局,又要能抓主要矛盾,以上仅是一些方向,条条大路通罗马。祝大家早日攻克难题!
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