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一、光刻中的“Peeling Defect” “Peeling Defect”指的是光阻线的坍塌,光阻“倒了”,这是一种在光刻中很常见的缺陷,从形貌上来看,这类缺陷很明显,就是表现为线条的坍塌,倾倒,如图所示。这类缺陷的认识,是比较简单的,形成原因及处理方式是需要关注的重点。 一、光阻的“Peeling Defect”如何造成? 关于这一块,我想从工艺、设备、原材料的角度来考虑这个问题,小编殚精竭虑,思忖良久,写下来不容易,请各位珍惜!这一块内容,对工程师水平的提高也是有很大很大帮助的!我这里帮大家梳理框架! 1)从工艺角度:这个很重点 首先,要想到工艺窗口Margin,我给大家分几类,一定要细细看,因为这个无论你去查case还是,提升工程能力,都有很大帮助! a)粘合问题,粘合剂不局限于HMDS。影响粘合的因素,温度与时间,衬底材料,粘合剂本身的情况,这里不详细介绍,感兴趣的可以参考我之前的文章,光刻材料之增粘材料; b)软烘烤(Soft Bake)或者叫前烘烤,这一块决定了光刻胶的硬化程度,以及溶剂蒸发情况,会一定程度上影响光刻胶与衬底的粘附力,与温度无定量关系; c)曝光焦距条件是否有问题,例如Focus工艺DOF是否Margin; d)PEB,PEB太强,加剧衬底光酸扩散,造成undercut; e)显影过程中rinse太强,造成光阻peeling。 2)从原材料角度:
a)考虑衬底,不同的衬底需要的粘合工艺不一样,常见的衬底,比如Glass、GaN、Silicon、金属衬底、SIN、OX等不同衬底;
b)粘合剂本身,粘合剂一般常用HMDS,但不同的衬底,使用HMDS可能造成大事!了解其他粘合剂,可以看看我之前的文章,有简介;
c)光刻胶本身:需要考虑,光刻胶深宽比的问题,要看该款胶是否适合实现如此高深宽比的制程。
3)工艺设备上: 主要考虑一下HMDS的形成方式,一般雾化,还有的旋涂。。。。。等等,从设备的角度也会限制。 4)偶然因素:常见!! a)比如说 ADH Chamber有Particle; b)显影condition异常波动:
c)热板上有Particle等。 三、这类缺陷我们如何处理? 1)工艺问题角度:维护好工艺窗口
2)原材料角度:衬底,粘合剂,光刻胶本身要协调考虑,选择合适的材料 3)偶然因素上,值班必备:a)Check ADH Chamber是否干净;b)Check DEV condition是否有异常,例如scan arm hight等;c)check 热板是否有particle等。
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